1.設備應具有國際上同行業中近年內的先進設計、制造水平，采用新的工藝、新材料、新技術(專有技術)，通過國際GEAE認證。 2.具有成熟的盤環件超聲C掃描檢測系統研制經驗，且有成熟的盤環件檢測系統應用案例，如用戶清單、客戶使用滿意度等的證明材料。 3.設備能進行盤環件的多區位檢驗，該系統應具有SPC型面跟蹤和底波監控功能。C掃與底波監控同時進行。 *技術要求： 1.系統帶寬：1Khz-50Mhz（-3db） 2.X軸定位精度：±0.1mm/m；Y軸定位精度：±0.1mm/m；Z軸精度： ±0.1mm/m 3.X軸重復定位精度： ±0.05mm；Y軸重復定位精度： ±0.05m；Z軸重復定位精度：±0.05mm 4.對于一般盤件檢驗，能檢出Ф0.4mm的平底孔;對于粉末冶金盤件檢驗，能檢出Ф0.4mm-18dB的平底孔;對于環件檢驗，能檢出Ф0.4mm的平底孔。

產品規格︰ 頻率范圍： 0.4-20MHz 

增益范圍： 0-120dB，0.1,2.0,6.0dB步進 

動態范圍： 32dB 

垂直線性： <3% 

水平線性： 1m內為0 

掃描范圍： 0.5-10000mm 

分 辨 率： >40dB 

靈敏度余量： >62dB 

工作模式：單/雙、穿透 

脈沖發生器：可變脈沖發生器 

阻尼：50/100/400Ω自動匹配 

檢波方式：半波/射頻 

抑制：0~99%線性抑制 

顯示環境溫度：-20~50℃ 

充電器：220~240V交流輸入